您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
電子檢測與品管
89 2012.01[民101.01]
頁25-32
電機工程
>
電燈廠
相關文獻
晶片封裝之高頻量測及參數萃取
動態學習神經網路應用於元件參數的萃取
主動元件高頻量測基本原理及技術
網路分析儀高頻量測--任意阻抗轉換技術探討
網路分析儀高頻量測--任意阻抗轉換技術之探討
可靠的次微米元件庫之快速開發方法
利用LabVIEW建置自動化阻抗量測及參數萃取平臺
適用於金氧半場效應電晶體表面電位模型PSP之參數萃取器
高頻量測冶具設計簡介
多埠向量網路分析儀及其於高頻半導體元件參數萃取之應用
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
晶片封裝之高頻量測及參數萃取
作 者
張彥堂
;
陳秋國
;
書刊名
電子檢測與品管
卷 期
89 2012.01[民101.01]
頁 次
頁25-32
分類號
448.57
關鍵詞
積體電路電磁相容
;
高頻量測
;
參數萃取
;
封裝等效模型
;
電源分布網路
;
IC-EMC
;
Power distribution network
;
PDN
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址