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題名 | 掃描電子顯微/X射線能譜分析法在微量證物鑑識的應用=Applications of Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-ray Spectrometry to Forensic Examination of Trace Evidence |
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作者 | 孟憲輝; Meng, Hsien-hui; |
期刊 | 科儀新知 |
出版日期 | 20120200 |
卷期 | 33:4=186 2012.02[民101.02] |
頁次 | 頁15-24 |
分類號 | 586.663 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 掃描電子顯微/X射線能譜分析法; 微量證物; 鑑識科學; |