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題名 | 自動化光學檢測應用於微放電線上補償技術研究=An AOI Technique for the On-line Compensation of Micro EDM |
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作 者 | 陳順同; 楊弘意; 康智凱; | 書刊名 | 先進工程學刊 |
卷期 | 6:1 2011.01[民100.01] |
頁次 | 頁53-57 |
分類號 | 448.94 |
關鍵詞 | 機械視覺; 微製造技術; 線上補償技術; 光學檢測; Machine vision; Micro fabrication technique; On-line compensation; Optical inspection; |
語文 | 中文(Chinese) |