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題名 | InP化學蝕刻與指狀透明金屬電極對正面耦光型光檢測器的效應=Effects of InP Chemical Etching and TCO Finger Electrodes on the Surface Coupled Photodiode |
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作者 | 楊奇達; 雷伯薰; 王琮民; 夏琳傑; 龔育呈; 林佳德; Yang, Chyi-da; Lei, Po-hsun; Wang, Cong-min; Xia, Lin-jie; Kung, Yu-cheng; Lin, Chia-te; |
期刊 | 真空科技 |
出版日期 | 20100900 |
卷期 | 23:3 2010.09[民99.09] |
頁次 | 頁13-21 |
分類號 | 448.59 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 砷化銦鎵檢光器; 化學蝕刻; 光響應; 銦鋅氧化物; InGaAs photodiode; Chemical etching; Responsivity; Indium zinc oxide; IZO; |