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題名 | 以臨界角法結合CCD影像擷取技術作表面形貌量測之研究=Three Dimensional Profile Measurement Based on the Critical Angle Method and the Use of a CCD Camera |
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作者 | 邱銘宏; 林振勤; 詹遠生; | 書刊名 | 技術學刊 |
卷期 | 25:3 2010.09[民99.09] |
頁次 | 頁245-249 |
分類號 | 448.59 |
關鍵詞 | 三維表面量測; 角度偏向; 反射率; 臨界角原理; Three-dimension profile measurement; Angular deviation; Reflectance; Critical angle theorem; |
語文 | 中文(Chinese) |