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題 名 | “次奈米級”電子能量損失光譜分析技術之開發=Development of Sub-nano Scale of EELS Analysis Technique |
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作 者 | 羅聖全; 林明為; 陳淑貞; 李世莉; 林麗娟; | 書刊名 | 工業材料 |
卷 期 | 254 2008.02[民97.02] |
頁 次 | 頁147-155 |
分類號 | 337.8 |
關鍵詞 | 場發射穿透式電子顯微鏡; 電子能量損失光譜儀; 超薄樣品製備技術; 能譜影像; Field emission transmission electron microscopy; FETEM; Electron energy loss spectrometer; EELS; Ultra-thin sample preparation; Spectrum-imaging; |
語 文 | 中文(Chinese) |