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題名 | “次奈米級”電子能量損失光譜分析技術之開發=Development of Sub-nano Scale of EELS Analysis Technique |
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作者 | 羅聖全; 林明為; 陳淑貞; 李世莉; 林麗娟; Lo, S. C.; Lin, M. W.; Chen, S. J.; Lee, S. R.; Lin, L. J.; |
期刊 | 工業材料 |
出版日期 | 20080200 |
卷期 | 254 2008.02[民97.02] |
頁次 | 頁147-155 |
分類號 | 337.8 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 場發射穿透式電子顯微鏡; 電子能量損失光譜儀; 超薄樣品製備技術; 能譜影像; Field emission transmission electron microscopy; FETEM; Electron energy loss spectrometer; EELS; Ultra-thin sample preparation; Spectrum-imaging; |