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來源資料
量測資訊
130 2009.11[民98.11]
頁12-17
工程學總論
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題 名
薄膜機械性質量測技術簡介
作 者
吳忠霖
;
葉銘泉
;
方維倫
;
書刊名
量測資訊
卷 期
130 2009.11[民98.11]
頁 次
頁12-17
專 輯
微奈米機械性質量測技術與應用
分類號
440.34
關鍵詞
薄膜材料
;
機械性質
;
鼓膜測試
;
微拉伸測試
;
奈米壓痕測試
;
樑彎曲測試
;
語 文
中文(Chinese)
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