您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
指令檢索
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
電子月刊
15:9=170 2009.09[民98.09]
頁182-190
相關文獻
高壓nLDMOS電晶體之驟回崩潰維持電壓與其對暫態閂鎖之反應
防護圈設計自動化
積體電路產品之閂鎖效應測試方法
寄生閂鎖效應在一ESD電源箝制電路之研究
系統層級靜電放電測試所引發之暫態觸發閂鎖效應
具有低觸發電壓及高抗閂鎖免疫力的靜電放電防護元件設計
具有高面積效益與可調整維持電壓的電源軌線間靜電放電箝制電路
具有可調整維持電壓的電源軌線間靜電放電箝制電路
互補式金氧半導體製程上合併三井結構、深溝槽結構、及次集極結構對閂鎖效應的影響
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
高壓nLDMOS電晶體之驟回崩潰維持電壓與其對暫態閂鎖之反應
作 者
陳穩義
;
柯明道
;
黃曄仁
;
書刊名
電子月刊
卷 期
15:9=170 2009.09[民98.09]
頁 次
頁182-190
分類號
448.552
關鍵詞
傳輸線脈波產生系統
;
維持電壓
;
閂鎖效應
;
橫向雙擴散電晶體
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址