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題 名 | Fast Fourier Transformation on Photoreflectance Spectra=光調制反射光譜之快速傅立葉轉換 |
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作 者 | 陳堯輝; | 書刊名 | 臺北技術學院學報 |
卷 期 | 30:2 1997.09[民86.09] |
頁 次 | 頁1-15 |
分類號 | 336.5 |
關鍵詞 | 光調制反射光譜; 快速傅立葉轉換; |
語 文 | 英文(English) |
中文摘要 | 利用光調制反射光譜術於室溫時探究砷化鎵之多層結構,並利用快速傅立葉轉換將光調制反射光譜呈現之法朗--克茲振盪轉換至頻率域解析;再經由解析所得之頻率推算出相對之電場強度。利用此一方法,除了樣品表面因費米能階穿定所引起之表面載子空乏區之電場被解析出來外;深埋在內層之電場亦被精確地求得。 |
英文摘要 | The room temperature photoreflectance (PR) spectra of GaAs multilayer structures have been characterized. Using fast Fourier transformation to analyze the Franz-Keldysh oscillations displayed on PR spectra, the electric fields caused by Fermi level pinning in surface charge region and the electric fields in intrinsic buried layer have been resolved. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。