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系統晶片
4 民95.04
頁144-151
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題名
深次微米元件特徵化趨勢與考量=Trends and Considerations for VDSM Cell Characterization
作者
郭建興
;
書刊名
系統晶片
卷期
4 民95.04
頁次
頁144-151
分類號
448.57
關鍵詞
深次微米元件
;
元件特徵值
;
語文
中文(Chinese)
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