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| 題 名 | 針對產業應用之掃描探針顯微鏡--需求與技術瓶頸的突破=Industrialization of Scanning Probe Microscopes--The Needs and Breakthrough of the Technology Bottleneck |
|---|---|
| 作 者 | 朱怡銘; 吳兆棋; | 書刊名 | 機械工業 |
| 卷 期 | 267 2005.06[民94.06] |
| 頁 次 | 頁108-118 |
| 專 輯 | 奈米機械技術專輯 |
| 分類號 | 471.713 |
| 關鍵詞 | 掃描式探針顯微鏡; 原子力顯微鏡; 磨耗; Scanning probe microscopes; Atomic force microscopes; Wear; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |