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題名 | 針對產業應用之掃描探針顯微鏡--需求與技術瓶頸的突破=Industrialization of Scanning Probe Microscopes--The Needs and Breakthrough of the Technology Bottleneck |
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作者 | 朱怡銘; 吳兆棋; | 書刊名 | 機械工業 |
卷期 | 267 2005.06[民94.06] |
頁次 | 頁108-118 |
專輯 | 奈米機械技術專輯 |
分類號 | 471.713 |
關鍵詞 | 掃描式探針顯微鏡; 原子力顯微鏡; 磨耗; Scanning probe microscopes; Atomic force microscopes; Wear; |
語文 | 中文(Chinese) |