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來源資料
零組件雜誌
163 2005.05[民94.05]
頁60-67
電機工程
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電燈廠
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匯出書目
題名
奈米級IC測試挑戰
作者
益華電腦
;
書刊名
零組件雜誌
卷期
163 2005.05[民94.05]
頁次
頁60-67
分類號
448.57
關鍵詞
奈米測試
;
IC設計
;
可測試性設計
;
語文
中文(Chinese)
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