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題 名 | 光激發螢光量測的原理、架構及應用=Photoluminescence: Principles, Sturcutre, and Applications |
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作 者 | 謝嘉民; 賴一凡; 林永昌; 枋志堯; | 書刊名 | 奈米通訊 |
卷 期 | 12:2 2005.05[民94.05] |
頁 次 | 頁28-39 |
分類號 | 336.5 |
關鍵詞 | 光激發螢光; 光激螢光分析; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 摘要: 光激螢光分析可快速又可靠的得到材料 中之能階結構以及載子躍遷行為,是一個有 力又無破壞的分析技術。藉由分析光激發螢 光資料,可以由光譜中的特徵可以得知材料 的摻雜雜質種類、能隙大小、化合物中的組 成成分,或是奈米材料中之奈米量子點的尺 寸、載子傳輸路徑與生命週期等重要訊息, 同時可以光激發螢光結果為材料結構、成分 與品質的判斷依據,為奈米材料發展上之一 關鍵量測技術。本文著重於光激螢光分析之 原理、設備架構以及螢光激發光譜、共焦顯 微影像與顯微光激螢光譜、時間解析光譜測 量等應用之介紹。 |
英文摘要 | Photoluminescence, a powerful and breakless analysis technology, can reveal the band structure and the carrier transportation behaviors in a material. Moreover, the doping type, band gap, composition, etc. of the bulk material or the size, path of carrier transportation, lifetime, etc. of the nano-material will be shown in the photoluminescence spectrum. So the photoluminescence could be a judgment of the material quality and be a key technology of the development of nano-technology. This paper emphasized to introduce the principles, structure, and applications of the photoluminescence, photoluminescence excitation, cofocal image with micro-PL, and time-resolved photoluminescence systems. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。