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來源資料
電子檢測與品管
57 2004.01[民93.01]
頁63-70
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題 名
EMC天線參數與天線校正關係
編 次
上
作 者
蔡榮鈞
;
書刊名
電子檢測與品管
卷 期
57 2004.01[民93.01]
頁 次
頁63-70
分類號
448.537
關鍵詞
電磁相容
;
天線因子
;
標準測試場地
;
發射天線因子
;
替代測試場地
;
雙天線因子
;
正規化場地衰減
;
標準場地法
;
語 文
中文(Chinese)
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