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題名 | 電子顯微鏡試片製備技術總論= |
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作者 | 羅聖全; 江正誠; 林智仁; 陳淑貞; 林麗娟; 洪健龍; |
期刊 | 工業材料 |
出版日期 | 20040200 |
卷期 | 206 2004.02[民93.02] |
頁次 | 頁150-156 |
分類號 | 448.59 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 電子顯微鏡; 試片製備; 三點研磨載具; 聚焦式離子束顯微切割儀; 超薄切割機; Electron microscopy; Specimen preparation; Tripod tool; Focused ion beam; Ultramicrotomy; |