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來源資料
科儀新知
25:4=138 2004.02[民93.02]
頁99-108
電學;電子學
>
電子光學;離子光學 Electron ; Ion Optics
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題名
奈米表面檢測技術之回顧=Review of Nanometer-Scale Surface Analysis Technology
作者姓名(中文)
蘇健穎
;
林宇軒
;
書刊名
科儀新知
卷期
25:4=138 2004.02[民93.02]
頁次
頁99-108
分類號
337.97
關鍵詞
奈米表面檢測
;
掃描探針顯微術
;
近場光學顯微術
;
語文
中文(Chinese)
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