頁籤選單縮合
題名 | 低溫複晶矽元件與陣列之可靠度 |
---|---|
作 者 | 陳志強; 張忠恕; | 書刊名 | 工業材料 |
卷期 | 196 2003.04[民92.04] |
頁次 | 頁153-163 |
分類號 | 448.533 |
關鍵詞 | 低溫複晶矽薄膜電晶體; 玻璃層次可靠度; 靜電傷害; Low temperature poly silicon thin film transistor; LTPS TFT; Glass-Level reliability; Electrostatic discharge damage; ESD; |
語文 | 中文(Chinese) |