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題名 | Contributions of Ion-Induced Damage Restoration and Removal in GaN Light Emitting Diodes=離子轟擊損傷之復原及移除對氮化鎵發光二極體的影響 |
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作者姓名(中文) | 呂燕堂; 劉育任; 劉代山; 李清庭; | 書刊名 | Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering |
卷期 | 7:3 2000.08[民89.08] |
頁次 | 頁173-180 |
專輯 | Electro-optical Engineering |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | 氮化鎵; 軟崩潰; 表面漏電流; 離子轟擊損傷; 熱處理; GaN; Ion-induced damage; Soft breakdown; Surface leakage; Thermal treatment; |
語文 | 英文(English) |