查詢結果分析
相關文獻
- 以氣相層析質譜法偵測半導體廠作業環境空氣中有害物
- 半導體工業用矽化氫(Silane)之物性及事故案例
- 替代燃料對汽柴油引擎性能、毒性、污染與噪音特性分析之研究
- 大氣壓力游離式質譜儀在半導體工業之應用
- 半導體工業空氣中揮發性有機化合物之分析
- 硒化鎘奈米半導體晶體的合成及在薄膜製備上的應用
- 半導體產業製程與用電特性之調查分析
- 我國動態隨機存取記憶體產業分析與策略研究
- Object-Oriented Design Methodology and Implementation of an Optimizing Adaptive Quality Controller for Semiconductor Manufacturing Processes
- VLSI所有權之動向
頁籤選單縮合
題名 | 以氣相層析質譜法偵測半導體廠作業環境空氣中有害物=Probing Airborne Chemicals of Semiconductor Work Place Using Gas Chromatography Mass Spectrometry |
---|---|
作者姓名(中文) | 葉銘鵬; 吳榮泰; 余榮彬; | 書刊名 | 勞工安全衛生研究季刊 |
卷期 | 8:2 2000.06[民89.06] |
頁次 | 頁159-174 |
分類號 | 412.78 |
關鍵詞 | 不鏽鋼採樣筒; 氣相層析質譜儀; 半導體; Canister; Gas chromatography mass spectrometry; Semiconductor; |
語文 | 中文(Chinese) |