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題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
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- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:4 2003.07[民92.07]
- 頁 次:
頁571-587
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:10=159 2008.10[民97.10]
- 頁 次:
頁169-175
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題 名:
不受晶片間互連約束的三維晶片時脈同步電路:Die-to-die Wire-independent Clock Synchronization for 3-D IC
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
141 2011.10[民100.10]
- 頁 次:
頁36-43
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題 名: