查詢結果
檢索結果筆數(50)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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題 名:
使用分離式時脈電網增進超低電壓晶片良率:Separate Clock Network Voltage for Yield Improvement of Ultra-Low-Voltage ICs
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
156 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁83-90
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁53-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁61-69
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題 名:
寬輸入輸出動態隨機存取記憶體之內建自我測試架構設計:Built-In Self-Test (BIST) Design for Wide I/O DRAM
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁70-78
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
186 2014.11[民103.11]
- 頁 次:
頁1-22
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題 名:
IC封裝溫度場有限元素法分析:Temperature Field Analysis of IC Molding Process by Using Finite Element Method
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37 2014.03[民103.03]
- 頁 次:
頁55-72
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:1 2014.02[民103.02]
- 頁 次:
頁1-14
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9:2 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁87-92
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 2014.01[民103.01]
- 頁 次:
頁13-19
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:2 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁5-7
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:2 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁199-202
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:2 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁257-260
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
107 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁16-29
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.05[民103.05]
- 頁 次:
頁15-18
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.05[民103.05]
- 頁 次:
頁19-23
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
157 2014.05[民103.05]
- 頁 次:
頁24-28
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
330 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁139-146
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題 名:
A Method Integrating Optimal Algorithm and FEM on CMOS Residual Stress:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:2 2014.04[民103.04]
- 頁 次:
頁123-128
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:特刊 2014.10[民103.10]
- 頁 次:
頁252-262
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題 名:
COG Bonding失效之改善過程探討:Explore the Process of Improvement COG Bonding Failure
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3:特刊 2014.10[民103.10]
- 頁 次:
頁318-326
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題 名: