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檢索結果筆數(11)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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題 名:
Self-Tuning of Fault Detection Threshold for High Impedance Fault Detection:高阻抗故障偵測跳脫位準的自動調整方法
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:4 1998.11[民87.11]
- 頁 次:
頁277-285
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題 名:
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題 名:
Maximization of Power Dissipation Under Random Excitation for Burn-In Testing:熱加速測試之隨機輸入圖樣的功率消耗最大化
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:2 1999.05[民88.05]
- 頁 次:
頁125-149
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題 名:
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題 名:
Diagnosing Crosstalk Faults in Dilated Benes Networks:偵測Dilated Benes網路的串音問題
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:3 1999.08[民88.08]
- 頁 次:
頁205-217
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題 名:
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題 名:
Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities:核心系統晶片測試--挑戰與機會
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁335-353
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題 名:
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題 名:
A Hierarchical Test Control Architecture for SOC Design:單晶片系統之階層式測試控制架構
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁355-363
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題 名:
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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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題 名:
Configuration Free SOC Interconnect BIST Methodology:與設計無關之單晶片系統連接線自我測試方法
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁377-386
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題 名:
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題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
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題 名:
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題 名:
A Hybrid LFSR Design for Low Power Applications:低功率混成線性回授移位暫存器之設計
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:1 2003.02[民92.02]
- 頁 次:
頁1-9
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:1 2003.02[民92.02]
- 頁 次:
頁91-98
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:4 1995.11[民84.11]
- 頁 次:
頁307-314