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題 名:
Core-Based System-on-Chip Testing: Challenges and Opportunities:核心系統晶片測試--挑戰與機會
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁335-353
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題 名:
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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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題 名:
Configuration Free SOC Interconnect BIST Methodology:與設計無關之單晶片系統連接線自我測試方法
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁377-386
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題 名:
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題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
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題 名: