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來源資料
科儀新知
21:3=113 1999.12[民88.12]
頁8-15
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題名
場發射高分辨電子顯微鏡在揭示原子分辨率晶體缺陷上的應用
作者姓名(中文)
李方華
;
書刊名
科儀新知
卷期
21:3=113 1999.12[民88.12]
頁次
頁8-15
專輯
材料電子顯微鏡學專題
分類號
471.713
關鍵詞
場發射
;
高分辨電子顯微鏡
;
原子分辨率
;
晶體缺陷
;
語文
中文(Chinese)
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