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來源資料
量測資訊
69 1999.09[民88.09]
頁15-21
精密機械工藝
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光學儀器
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題名
光電產業量測技術之最新發展--雷射都卜勒干涉儀
作者
吳錦源
;
李世光
;
書刊名
量測資訊
卷期
69 1999.09[民88.09]
頁次
頁15-21
專輯
雷射干涉技術
分類號
471.7
關鍵詞
光電產業量測技術
;
雷射都卜勒干涉儀
;
語文
中文(Chinese)
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