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題 名 | 以同步輻射光電子能譜顯微術研究材料性質 |
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作 者 | 胡宇光; 斯威克; 葛費雪; 林鴻明; | 書刊名 | 物理雙月刊 |
卷 期 | 20:5 1998.10[民87.10] |
頁 次 | 頁517-534 |
分類號 | 339.495 |
關鍵詞 | 同步輻射光電子能譜顯微術; 材料性質; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 高空間高能量解析度之光電子能譜顯微術提供材料分析一個嶄新的工具。高能量解析度能使我們更容易分辨材料中元素不同化學態之分佈,以及其與表面缺陷及形貌之關係。使用光子作為分析之激發源,也降低了傳統電子顯微術對樣品處理之要求,並能有效降低對樣品之傷害。同步輻射光源所提供之極寬頻之高品質光子,使此技術之應用不儘侷限於樣品表面之分析。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。