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題 名 | 具有高耦合係數的光折變全像光學記憶體之特性探討 |
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作 者 | 謝美莉; | 書刊名 | 光學工程 |
卷 期 | 63 1998.09[民87.09] |
頁 次 | 頁5-14 |
分類號 | 448.595 |
關鍵詞 | 高耦合係數; 光折變全像光學記憶體; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文在探討體積型全像光學儲存系統中的光折變晶體之晶軸方向、耦合常數及記錄光束之強度比等儲存條件對重建影像的灰階對比度之影響,以求取高品質之全像光學資訊儲存的最佳條件。我們首先利用耦合波理論推導繞射效率與儲存參數之間的關係式,其次用電腦作模擬計算,並分析儲存參數對於重建影像之灰階對比度的影響;最後,以光學實驗驗證之。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。