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題名 | 掃描式穿隧顯微之研究=The Study of the Scanning Tunneling Microscopy(STM) |
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作者姓名(中文) | 陳國良; | 書刊名 | 中華工商專校學報 |
卷期 | 14 1997.03[民86.03] |
頁次 | 頁114-132 |
分類號 | 471.713 |
關鍵詞 | 掃描式穿隧顯微; |
語文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 僅僅不到十年,賓尼格(G.Binnig)和羅勒(H.Rohrer)的一項重大突破,掃描 式穿隧顯微術( Scanning Tunneling Microscopy, 稱簡 STM )便創造出一個風起雲湧的 晶格影像觀測時代。 本研究即嘗試做一個 STM 的控制器,以便藉著控制器上的一些參數的 調整,來觀察這些參數或那些參數會如何地影響所量得的影像。根據實驗結果,掃描頻率、 偏壓大小、穿隧電流設定值、比例放大器和積分器的增益等確實會影響所量得的影像。它們 對影像影響的結果,可能是解析力提高或降低,也可能是影像被 " 扭曲 " 或 " 修飾 " 了 。每一個參數和其他參數並不是完全相干的,它可以藉著其他參數的調整來做補償。雖然我 們所量測的試片, 只有繞射光柵( diffraction grating )一種,但是其一切的理論皆可 以推廣至其他情形。 |
英文摘要 | This thesis proposes the studuies of the Scanning Tunneling Microscopy. We want to know how the parameters and which parameter influence the image. We first design and implement a controller of STM. Then we adjust the parameters with the controller of STM to see if the image is changed. The parameters which we want to adjust are Amplitude、X-frequency、 tunneling current set-point、bias voltage、 proportional and integral gain. The experimental results show that these parameters indeed influence the image. But the parameters are not completely independent. When one get poor signal, he can adjust the other parameters to get better one. |
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