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題 名 | An Algorithm to Find All Parameters in Pattern Recognition Using Unsupervised Learning=一個用未督導學習去尋找圖形辨識中所有參數的方法 |
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作 者 | 黎自奮; 張智立; | 書刊名 | Proceedings of the National Science Council : Part A, Physical Science and Engineering |
卷 期 | 21:4 1997.07[民86.07] |
頁 次 | 頁278-284 |
分類號 | 319.9 |
關鍵詞 | 圖形辨識; 參數; Bayes rule; Classification; Pattern recognition; Unsupervised learning; |
語 文 | 英文(English) |