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題 名 | 蒙脫石之X光繞射晶體結構分析=X-Ray Diffraction Analysis of Crystal Structure of Montmorillonites |
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作 者 | 李源弘; 李企桓; 張文固; 王安; 陳川林; | 書刊名 | 陶業學刊 |
卷 期 | 1:1 1997.01[民86.01] |
頁 次 | 頁45-49 |
分類號 | 440.34 |
關鍵詞 | X-ray繞射分析; Rietveld法; 蒙脫石3-D結構; XRD; Rietveld analysis; Montmorillonites; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 利用Rietveld晶體結構分析法解析X-ray繞射分析數據,已在超導研究方面獲得了 成功的結果。本研究嘗試以 Rietveld 法解析蒙脫石晶體結構以瞭解蒙脫石多方面的基礎物 理特性。實驗過程中發現蒙脫石常與高嶺石共生因而增加了結構模擬的難度,若能將樣品 ( 以蒙脫石為主 ) X-ray 繞射數據中的高嶺石繞射值剔除,可獲得接近理論結構的 3-D 結構 模擬圖。 |
英文摘要 | It has obtained success in the research of the XRD data of superconductors with Rietveld method. So this research used Rietveld method to understand the physical characteristics of montmorillonites. We find its difficult to simulate the structure of montmorillonites for it often mixing with impurities such as kaolinites. If we cut the XRD data resulted from kaolinites, we will obtain a better 3-D structure of montmorillonites similar to the theoretical structure. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。