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題 名 | 分子標識在定位與分析多個數量性狀基因座上應用=Mapping and Analysis of Multiple Quantitative Trait Loci (QTL) with the Aid of Molecular Genetic Markers |
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作 者 | 劉清; 蔡峰璋; | 書刊名 | 中華農藝 |
卷 期 | 6:2 1996.06[民85.06] |
頁 次 | 頁73-83 |
分類號 | 434、434 |
關鍵詞 | 數量性狀基因座; 遺傳標識; 累加性效應; 顯性效應; 簡單區間定位法; 綜合區間定位法; 部份綜合區間定位法; Quantitative trait loci; QTL; Genetic marker; Additive vaule; Dominant deviation; Simple interval mapping; Composite interval mapping; Semi-composite interval mapping; |
語 文 | 中文(Chinese) |