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題 名 | 可修復電子系統之故障率模式:非齊次卜以松過程=A Failure Rate Model of Repairable Electronic Systems: Nonhomogeneous Poisson Process |
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作 者 | 魏智章; 張保隆; | 書刊名 | 管理與系統 |
卷 期 | 3:1 1996.01[民85.01] |
頁 次 | 頁79-94 |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | 非齊次卜以松過程; 可靠度; 故障率; Nonhomogeneous poisson process; Reliability; Failure rate; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文指出現有可靠度標準對目前可修復電子系統的不適用性,而以隨機 過程的觀點,構建出一個一般化的具有韋布強度函數的非齊次卜以松過程故障率 模式和逐次機率比檢定模式,並且以實際可修復電子系統可靠度測試的故障數據 來說明所構建之非齊次卜以松過程模式的應用可行性。 |
英文摘要 | This paper indicates the conventional reliability standard is not suitable for present repairable electronic systems. With the point of view of stochastic process, a generalized failure rate model of Poisson process with Weibull intensity function is conducted. The Sequential Probability Ratio Test(SPRT) of corresponding Poisson process is also developed. Finally, this Non homogeneous Poisson Process (NHPP) model is applied to a practical example of reliability test for electronic systems. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。