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題名 | Dependence of Brightness Degradation on the Oxygen-Rich Concentration in ZnS: TbOF Electroluminescent Devices=超氧量對硫化鋅摻雜氟氧化鋱綠色電激發光元件亮度衰減之相關性研究 |
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作者 | 許聰基; 王欽戊; 馬聖雄; Sheu, Tong-ji; Wang, Ching-wu; Ma, Sheng-hsiung; |
期刊 | 高雄工學院學報 |
出版日期 | 199606 |
卷期 | 3 1996.06[民85.06] |
頁次 | 頁57-62 |
分類號 | 448.551 |
語文 | eng |
關鍵詞 | 亮度衰減; 深階陷阱; 硫化鋅摻雜氟氧化鋱; Brightness degradation; Deep traps; ZnS:TbOF; |