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| 題 名 | A New Measurement Technique for Capacitive Coupling Coefficients and 3-D Capacitance Characteristics in Floating-Gate Devices=一種新的量測技術用以量測懸浮閘極元件之電容性耦合係數與三度空間電容特性 |
|---|---|
| 作 者 | Choi,Woong Lim; Kim,Dae Mann; Choi,Il Hyun; | 書刊名 | Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering |
| 卷 期 | 2:1 1995.02[民84.02] |
| 頁 次 | 頁13-18 |
| 分類號 | 448.533 |
| 關鍵詞 | 非易變性記憶元件; 電容性耦合式懸浮閘元件; 閃掠元件之三度空間電容; Nonvolatile memory devices; Capacitive coupling in floating-gate devices; 3-D capacitance in flash devices; |
| 語 文 | 英文(English) |