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題名 | 直接調制雷射光之自同差基頻特性及其在檢光器頻寬檢測之應用 |
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作者姓名(中文) | 廖虹惠; 廖枝旺; | 書刊名 | 電信研究 |
卷期 | 23:5 1993.10[民82.10] |
頁次 | 頁763-771 |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | 自同差基頻特性; 雷射光; 頻寬檢測; 檢光器; |
語文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 以低頻直接調制之單縱模雷射光經光纖相對延遲後,做自同差法(Self-Homodyne),可產生具寬基頻帶之光源。此自同差法源自於調頻旁帶法(FM Sideband Method)及外差法Heterodyne Method),却較其穩定、易控制,實為高頻檢光器頻寬測試的最佳方法。 本文針對自同差法之原理,作實際之測量與分析,研究其特性以及受各項參數變化的影響,最後並應用於高速檢光器之頻寬測試。實驗結果顯示,直接調變頻率、光調變指數(OMI),雷射二極體之溫度及偏壓電流等,決定光源之最大頻寬,而此頻寬與直接調制頻率呈週期性函數關係,其週期取決於光纖之相對延遲時間。在本實驗中,吾人已成功地獲得頻寬高於22GHz之檢光器檢測用光源。 |
英文摘要 | Extremely wide baseband electric power spectrum (BEPS~22GHz) is generated by self-homodyne method under very low frequency direct modulation (10.71 MHz). It is a tunable baseband electric power source that is engendered from laser chirp-induced dynamic line broadening by the delay self-homodyne method. This method not only implements easily but also shows result accurately. |
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