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題 名 | 次像素點解析度投射條紋法及其在半徑量測和物體輪廓重建上的應用 |
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作 者 | 章明; 陳建勳; 戴文智; | 書刊名 | 中原學報 |
卷 期 | 19 1990.12[民79.12] |
頁 次 | 頁42-54 |
分類號 | 446.8401 |
關鍵詞 | 半徑; 次像素點; 投射; 物體; 重建; 條紋法; 量測; 解析度; 輪廓; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文乃應用條紋投射技術,使光線穿過光柵(grating),經由適當的光學元件而將光柵投射於物體上,此直線條紋由於物體的曲率變化而變化,應用條紋中心位置的判讀技街,且計算相對應的物體曲率變化,即可決定物體幾何形狀的第三尺寸。 此並可進一步應用幾何的特性,進行曲率半徑的量測或是物體的三次元影像重現等應用。為了能更正確的決定條紋中心的位置,本文亦提出以最小平方迴歸修正法,達到尋找條紋中心次像素點的解析能力,減少量測誤差,提高量測的準度與精度。 |
英文摘要 | The projection fringe method in which a light beam passes through a grating, and onto a object for radius measurement and 3-D profile reconstruction is presented. When the deformed fringes on the object are detected, the third dimension of the object geometry can be determined by detecting the fringe centers and caIculating the curvatures of the detected fringes. For locating the fringe center more accurately, an optimum reconstruction filter with subpixel resolution ability through the second order polynomial least square regression is developed. Theoretical analysis and experimentaI restilts show that the measurements are more accurate and precise when the subpixelation technique is used. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。