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來源資料
科儀新知
9:6=44 1988.05[民77.05]
頁37-42
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題名
全反射 x﹣光螢光光譜儀之固體微量分析
作 者
趙建彰
;
書刊名
科儀新知
卷期
9:6=44 1988.05[民77.05]
頁次
頁37-42
分類號
343.18
關鍵詞
X光
;
全反射
;
固體
;
微量分析
;
螢光光譜儀
;
語文
中文(Chinese)
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