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題名 | 二維極限下凡德瓦系統之電子結構--分子束磊晶薄膜成長與臨場角解析光電子能譜之應用=Electronic Structures of van der Waals Systems in Two-Dimensional Limit--Application of Molecular Beam Epitaxy Growth and In-Situ Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy |
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作者 | 林孟凱; Lin, Meng-kai; |
期刊 | 真空科技 |
出版日期 | 20220900 |
卷期 | 35:3 2022.09[民111.09] |
頁次 | 頁6-14 |
分類號 | 448.614 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 凡德瓦二維材料; 角解析光電子能譜; 分子束磊晶; 超薄薄膜; 臨場量測; |