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題 名 | 低功率數位電路測試資料壓縮及產生方法=Data Compression and Generation Methods of Low Power Digital Circuit Test |
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作 者 | 林易增; | 書刊名 | 新新季刊 |
卷 期 | 48:2 2020.04[民109.04] |
頁 次 | 頁134-137 |
分類號 | 448.537 |
關鍵詞 | 全掃描鏈測試; 全速測試; 測試資料壓縮; 降低測試功率; Full scan chain testing; At-speed testing; Test data compression; Test power reduction; |
語 文 | 中文(Chinese) |