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來源資料
量測資訊
191 2020.01[民109.01]
頁51-54
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題 名
光譜及AOI技術應用於鳳梨糖度及外觀檢測
作 者
張玉姍
;
林雁容
;
林友崧
;
郭仲倫
;
書刊名
量測資訊
卷 期
191 2020.01[民109.01]
頁 次
頁51-54
分類號
435.374
關鍵詞
光譜
;
自動化光學檢測
;
糖度
;
外觀檢測
;
AOI
;
語 文
中文(Chinese)
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