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來源資料
量測資訊
181 2018.05[民107.05]
頁46-52
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題名
單一顆粒感應耦合電漿質譜技術於奈米材料常規分析之進展
作者
林芳新
;
劉益宏
;
張君綾
;
徐繹翔
;
陳威宏
;
書刊名
量測資訊
卷期
181 2018.05[民107.05]
頁次
頁46-52
分類號
343.381
關鍵詞
奈米科技
;
奈米顆粒
;
單一顆粒感應耦合電漿質譜技術
;
語文
中文(Chinese)
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