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來源資料
科儀新知
206 2016.03[民105.03]
頁6-18
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材料科學
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題名
原子級空間解析之電子激發能譜檢測技術與其在奈米材料之應用=Studies of Electronic Excitations in Nano-Materials by Spatially Resolved Electron Energy Loss Spectroscopy
作者姓名(中文)
吳建霆
;
書刊名
科儀新知
卷期
206 2016.03[民105.03]
頁次
頁6-18
專輯
奈米檢測專題
分類號
440.2
關鍵詞
原子級空間解析
;
能隙量測
;
電子激發能譜檢測技術
;
奈米材料
;
STEM
;
語文
中文(Chinese)
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