您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
電子檢測與品管
104 2015.10[民104.10]
頁61-66
電機工程
>
電子工程
相關文獻
認識LTE帶來的裝置內共存干擾及其因應之道
LTE發展現況與課題之研究
IDC的致勝關鍵--客戶管理與計費
電信旅館級的IDC服務
B2B服務大體檢
打造數位發電廠--淺談IDC
IDC成功經營策略--優勢互補、專業合作
IDC業者務實經營,力求供需平衡
4C服務為IDC市場決勝關鍵!
e化風潮IDC業者興起
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
認識LTE帶來的裝置內共存干擾及其因應之道
作 者
徐雍智
;
書刊名
電子檢測與品管
卷 期
104 2015.10[民104.10]
頁 次
頁61-66
分類號
448.6
關鍵詞
智慧型手機
;
無線標準
;
裝置內共存干擾
;
LTE
;
IDC
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址