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來源資料
科儀新知
202 2015.03[民104.03]
頁6-15
電機工程
>
電燈之特殊應用
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匯出書目
題 名
LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發=An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects
作 者
陳銘福
;
周志忠
;
陳志文
;
翁睿謙
;
黃鴻基
;
書刊名
科儀新知
卷 期
202 2015.03[民104.03]
頁 次
頁6-15
專 輯
光電與生醫檢測技術專題
分類號
448.59
關鍵詞
晶粒
;
瑕疵
;
自動光學檢測
;
LED
;
語 文
中文(Chinese)
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