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題 名 | 淺談發明及新型專利權範圍侵害判斷--以外國專利侵權訴訟判決為他山之石(上)=The Judgement of Infringement on Patent Scope (1) |
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作 者 | 顏吉承; | 書刊名 | 智慧財產權月刊 |
卷 期 | 88 民95.04 |
頁 次 | 頁39-68 |
分類號 | 440.6 |
關鍵詞 | 發明; 新型專利權; 專利侵權訴訟; 專利侵害; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 經濟部智慧財產局於民國93年10月4日在網站上(http://ww.tipo.gov.tw)發布「專利侵害鑑定要點」(草案)。草案分上、下兩篇,下篇中將侵害之判斷流程分為兩階段:階段1為解釋申請專利範圍;階段2分為解析申請專利範圍之技術特徵、解析鑑定對象之技術內容及是否符合文義讀取、適用均等論、適用逆均等論、適用禁反言原則或適用先前技術阻等判斷步驟。第2階段中若干判斷步驟的內容並未詳細規範,例如為何全表要件原則不列為判斷流程中的一個步驟?均等之適用除了功能、方式、結果三部檢測方式外,是否尚有其他判斷原則?解釋申請專利範圍時得參酌之依據已包括說明書等內部證據,在適用禁反言原則之判斷步驟中,再以內部證據為判斷基礎,是否矛盾? 鑑於草案發布以後,外界對於專利侵害判斷之理論與實務操作有諸多疑惑,筆者願將參與草案撰寫工作過程中,所蒐集或參考有關專利侵害訴訟之判決、理論及實務等,與讀者一起分享。以下內容係以發明專利為主,新型專利準用之。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。