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題名 | 探討發明單一性之專利審查實務=Discussion on the Patent Examination Practices of Unity of Invention |
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作者 | 陳麒文; Chen, Chi-wen; |
期刊 | 智慧財產權月刊 |
出版日期 | 20140400 |
卷期 | 184 2014.04[民103.04] |
頁次 | 頁5-27 |
分類號 | 440.6 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 發明單一性; 特別技術特徵; 檢索報告; 部分檢索報告; 所屬技術領域中具有通常知識者; 專利審查程序手冊; Unity of Invention; Special technical feature; STF; Search report; Partial search report; Person ordinarily skilled in the art; MPEP; |
中文摘要 | 申請發明專利應就每一發明提出申請,但二個以上發明屬於一個廣義發明概 念,亦即具發明單一性者,得於一申請案中提出申請。發明單一性規定之目的, 除了基於經濟上之原因,主要係為有效利用審查資源,方便分類、檢索及審查, 以利於公眾對於專利資料之查閱與利用。申請專利之發明不符單一性時,必須分 割或刪修;然若經專利專責機關審定核准,不符合發明單一性規定並不構成舉發 之理由。審查人員對於單一性之判斷步驟,尤其在何種情況需檢索、何種情況不 用檢索,常有許多疑問。本文彙整我國與各主要專利國家有關單一性的相關法 條、審查基準,檢視相關事實,並提出對實務上審查發明單一性之簡單評析。 |
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