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題 名 | 應用灰色系統模型於半導體封裝測試之研究--以P公司為例=An Application of Grey System Model for Semiconductor Packaging and Testing: A Case Study of P Company |
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作 者 | 王賢崙; 徐昌宏; 呂仁和; | 書刊名 | 明新學報 |
卷 期 | 40:1 2014.02[民103.02] |
頁 次 | 頁185-196 |
分類號 | 448.552 |
關鍵詞 | 灰色模型; 非線性柏努力; 半導體封裝測試; 中期預測; Grey system model; NGBM; Semiconductor packaging; MAPE; MSE; |
語 文 | 中文(Chinese) |