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| 題 名 | 探討美國之奈米技術商品的嚴格侵權法律責任最小化之策略=Explore Minimization Strategies for Strict Products Liability in Tort of the Products Involving Nanotechnology in the United States |
|---|---|
| 作 者 | 鄭匡善; | 書刊名 | 科技法律透析 |
| 卷 期 | 25:9 2013.09[民102.09] |
| 頁 次 | 頁44-64 |
| 分類號 | 496.1 |
| 關鍵詞 | 製造瑕疵; 設計瑕疵; 警告與指示瑕疵; 消費者預期測試; 風險與效用測試; Manufacturing defects; Design defects; Warnings and instructional defects; Consumer expectations test; Risk-utility test; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |