查詢結果分析
來源資料
相關文獻
- 奈米粒子計量技術發展與標準粒子介紹
- 奈米粒子計量技術與量測系統簡介
- 奈米粒子量測標準
- On Incomplete Data and the Bias-Corrected Jackknife Estimate
- 分析化學品質保證另類思考
- 金屬奈米粒子的吸收光譜
- 總體經濟計量--時間數列模型:臺灣的實證分析
- 多向度量尺法(MDS)應用於社會計量分析之研究
- 數位音訊廣播系統之可調變速率剔除腓特比解碼器的設計
- Bibliometric Indicators of the Scholarly Productivity of Researchers and Scientists in Kuwait as Documented by Citations to Their Published Works
頁籤選單縮合
| 題 名 | 奈米粒子計量技術發展與標準粒子介紹=Development of Nanoparticle Metrology and Introduction of Standard Particle |
|---|---|
| 作 者 | 翁漢甫; 余大昌; 何信佳; 陳國棟; | 書刊名 | 臺灣奈米會刊 |
| 卷 期 | 30 2012.09[民101.09] |
| 頁 次 | 頁46-54 |
| 分類號 | 440.34 |
| 關鍵詞 | 奈米粒子; 計量; 動態光散射法; 微分電移動度分析法; Nanoparticles; Metrology; Dynamic light scattering; Differential mobility analyzer; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |